купить SN74BCT8240ADW с BYCHPS
Купить с гарантией
SN74BCT8240ADW
- Тип продуктов:
- SN74BCT8240ADW
- производитель:
- Описание:
- IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
- Статус бесплатного свидания / Статус RoHS:
- Без свинца / Соответствует RoHS
- Доступное количество:
- 17164 Pieces
- Техническая спецификация:
- SN74BCT8240ADW.pdf
Введение
BYCHIPS является дистрибьютором чулок для SN74BCT8240ADW, у нас есть запасы для немедленной доставки, а также доступны для длительного времени. Отправьте нам свой план покупки SN74BCT8240ADW по электронной почте, мы предоставим вам лучшую цену в соответствии с вашим планом.
Спецификация
| Напряжение питания: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Поставщик Упаковка устройства: | 24-SOIC |
| Серии: | 74BCT |
| упаковка: | Tube |
| Упаковка /: | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Другие названия: | 296-33846-5 SN74BCT8240ADW-ND SN74BCT8240ADWE4 SN74BCT8240ADWE4-ND SN74BCT8240ADWG4 SN74BCT8240ADWG4-ND |
| Рабочая Температура: | 0°C ~ 70°C |
| Количество битов: | 8 |
| Тип установки: | Surface Mount |
| Уровень влажности (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Стандартное время изготовления: | 6 Weeks |
| Номер детали производителя: | SN74BCT8240ADW |
| Тип логики: | Scan Test Device with Inverting Buffers |
| Расширенное описание: | Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC |
| Описание: | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
| Email: | [email protected] |
Связанные части для SN74BCT8240ADW
| Образ | Тип продуктов | Производители | Описание | Посмотреть |
|---|---|---|---|---|
|
SN74BCT8244ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | запрос |
|
SN74BCT8244ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | запрос |
|
SN74BCT8240ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | запрос |
|
SN74BCT8240ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | запрос |
|
SN74BCT8245ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC | запрос |
|
SN74BCT8244ANTG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | запрос |
|
SN74BCT8245ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | запрос |
|
SN74BCT8240ANTG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | запрос |
|
SN74BCT8240ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | запрос |
|
SN74BCT8245ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC | запрос |
|
SN74BCT8240ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | запрос |
|
SN74BCT8244ADWE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | запрос |
|
SN74BCT8244ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | запрос |
|
SN74BCT8245ANTG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | запрос |
Latest Новости
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog