купить SN74ABT18504PM с BYCHPS
Купить с гарантией
SN74ABT18504PM
- Тип продуктов:
- SN74ABT18504PM
- производитель:
- Описание:
- IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
- Статус бесплатного свидания / Статус RoHS:
- Без свинца / Соответствует RoHS
- Доступное количество:
- 16668 Pieces
- Техническая спецификация:
- SN74ABT18504PM.pdf
Введение
BYCHIPS является дистрибьютором чулок для SN74ABT18504PM, у нас есть запасы для немедленной доставки, а также доступны для длительного времени. Отправьте нам свой план покупки SN74ABT18504PM по электронной почте, мы предоставим вам лучшую цену в соответствии с вашим планом.
Спецификация
| Напряжение питания: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Поставщик Упаковка устройства: | 64-LQFP (10x10) |
| Серии: | 74ABT |
| упаковка: | Tray |
| Упаковка /: | 64-LQFP |
| Другие названия: | 296-3940 |
| Рабочая Температура: | -40°C ~ 85°C |
| Количество битов: | 20 |
| Тип установки: | Surface Mount |
| Уровень влажности (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Стандартное время изготовления: | 6 Weeks |
| Номер детали производителя: | SN74ABT18504PM |
| Тип логики: | Scan Test Device with Universal Bus Transceivers |
| Расширенное описание: | Scan Test Device with Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
| Описание: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
| Email: | [email protected] |
Связанные части для SN74ABT18504PM
| Образ | Тип продуктов | Производители | Описание | Посмотреть |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT18502PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | запрос |
|
SN74ABT18504PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | запрос |
|
SN74ABT18504PMRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | запрос |
|
SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | запрос |
|
SN74ABT18504PMG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | запрос |
|
SN74ABT18502PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | запрос |
|
SN74ABT18640DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | запрос |
|
SN74ABT18646PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | запрос |
|
SN74ABT18245ADL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | запрос |
Latest Новости
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog